Filtrar por

tipo

fondo y/o colección

Encuentre documentos según el Fondo o Colección a la que pertenece.

lugar

Encuentre documentos de acuerdo con las relaciones de lugar en su fondo o colección. Puede optar por ver los lugares disponibles como una lista o jerarquía de nombres de lugares.

persona/Org

Asociación Internacional de Críticos de Arte (AICA) (2)

Berthot, Jake (3)

Biennale de Paris (1)

Calder, Alexander (2)

California Institute of the Arts (CalArts) (1)

CIA (Central Intelligence Agency) (2)

Comité Internacional de Solidaridad Artística con Chile (2)

de Wilde, Edy (1)

Embajada de Chile en Estados Unidos (1)

Embajada de Chile en Japón (1)

Guston, Philip (1)

Houston, Mary (2)

Instituto de Arte Latinoamericano (3)

International Biennial Exhibition of Prints in Tokyo (2)

Israel, Robert (3)

Joyce, James (2)

Kimura, Kosuke (1)

Kunzle, David (1)

Levi, Carlo (1)

LeWitt, Sol (3)

Leymarie, Jean (1)

Metzger, Deena (1)

Ministerio de Relaciones Exteriores de Chile (1)

Mio, Kôzô (1)

Moreno Galván, José María (1)

Mori, Shoichiro (1)

Motherwell, Robert (1)

Nagai, Kazumasa (1)

Noda, Tetsuya (1)

Ogura, Tadao (3)

Ohno, Hidetaka (1)

Pedrosa, Mário (6)

Penrose, Roland (1)

Quaytman, Harvey (3)

Saitô, Yoshishige (1)

Selz, Peter (1)

Starzynsky, Juliusz (1)

Stella, Frank (1)

Sweeney, Sean (1)

The National Museum of Modern Art, Kyoto (3)

Tomiyama, Hideo (3)

Trelles, Danilo (3)

Triennale-India (4)

UNCTAD III (2)

Universidad de Chile. Facultad de Artes (1)

University of California (Berkeley) (1)

Usami, Keiji (1)

Youngerman, Jack (1)

Yunkers, Adja (3)

Lenguaje

Clasificación Genérica del Material

Acontencimiento

Conceptos

Museo de Arte Moderno y Experimental (4)

Gobierno Popular (1)

Material

Proceso museo

Técnica

Tipo documental